IMD 102 DEMO PROGRAM 操作說明

IMD 102 DEMO PROGRAM 操作說明:

注意事項:

1. 須配合 MDT 提供之 DEMO CIRCUIT(IMD101&102) 使用
2 .執行程式前先將 DEMO BOARD 之 5X PATH 切換為 711 PATH
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demo10P61.asm // STAGE1_I/O testing :

(1)PA.PB 01H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE1
(2)PB執行跑馬燈程式,同時 PA 由 PA0 開始點亮至 PA4 為止
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 01H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE2_RAM testing :

(1)PA.PB 02H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE2
(2)PB 10H 閃爍三次, 此為 RAM testing 之起始位址
(RAM 00H ~ 0FH 的部份位址供特殊暫存器及副程式迴圈使用, 所以將 RAM testing 設定為從 10H 開始)
(3)PB 顯示 10H ~ 4FH 值
(4)PB 4FH 閃爍三次, 此為 RAM testing 之結束位址
(5)測試完畢,PA.PB 將維持 02H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE3_RTCC testing :

(1)PA.PB 03H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE3
(2)外部 RTCC 測試, PB 將反應出按下 RTCC 鍵的次數, 其中
1~ 7 次 trig edge 為 Hi > Lo
8~14 次 trig edge 為 Lo > Hi
(3)按下第 15 次時開始執行內部 RTCC 測試,
PB0 將左旋至 PB7 為止, 且每左旋一個位置其間隔時間將因 RTCC 使用 prescaler 比例的加大而變長
(4)測試完畢,PA.PB 將維持 03H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE4_WDT testing :

(1)PA.PB 04H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE4
(2)PA 由 01H 開始顯示至 08H 為止, 同時 PB HI/LO byte 相對位置交替變換作 SWAP 動作,
且每交替之間隔時間將因 WDT 使用 prescaler 比例的加大而變長
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 04H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE5_Interrupt testing :

(1)PA.PB 05H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE5
(2)PA 維持 05H 輸出值, 遇中斷條件時 PA 將對應值閃爍三次後重新返回 05H 輸出狀態,
中斷反應值詳列如下:
01H >> 代表 PB7~PB4 pin change interrupt 作動
02H >> 代表 PB0/INT external interrupt 作動
03H >> 代表 RTCC 鍵按下 8 次後 造成 RTCC overflow interrupt 作動
(3)測試完畢直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳回 STAGE1




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demo2051.asm // STAGE1_I/O testing :

(1)PA.PB 01H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE1
(2)PB執行跑馬燈程式,同時 PA 由 PA0 開始點亮至 PA4 為止
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 01H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE2_RAM testing :

(1)PA.PB 02H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE2
(2)PB 10H 閃爍三次, 此為 RAM testing 之起始位址
(RAM 00H ~ 0FH 的部份位址供特殊暫存器及副程式迴圈使用, 所以將 RAM testing 設定為從 10H 開始)
(3)PB 顯示 10H ~ 4FH 值
(4)PB 4FH 閃爍三次, 此為 RAM testing 之結束位址
(5)測試完畢,PA.PB 將維持 02H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE3_RTCC testing :

(1)PA.PB 03H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE3
(2)外部 RTCC 測試, PB 將反應出按下 RTCC 鍵的次數, 其中
1~ 7 次 trig edge 為 Hi > Lo
8~14 次 trig edge 為 Lo > Hi
(3)按下第 15 次時開始執行內部 RTCC 測試,
PB0 將左旋至 PB7 為止, 且每左旋一個位置其間隔時間將因 RTCC 使用 prescaler 比例的加大而變長
(4)測試完畢,PA.PB 將維持 03H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE4_WDT testing :

(1)PA.PB 04H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE4
(2)PA 由 01H 開始顯示至 08H 為止, 同時 PB HI/LO byte 相對位置交替變換作 SWAP 動作,
且每交替之間隔時間將因 WDT 使用 prescaler 比例的加大而變長
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 04H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE5_Interrupt testing :

(1)PA.PB 05H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE5
(2)PA 維持 05H 輸出值, 遇中斷條件時 PA 將對應值閃爍三次後重新返回 05H 輸出狀態,
中斷反應值詳列如下:
01H >> 代表 PB7~PB4 pin change interrupt 作動
02H >> 代表 PB0/INT external interrupt 作動
03H >> 代表 RTCC 鍵按下 8 次後 造成 RTCC overflow interrupt 作動
(3)測試完畢直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE6_AD conversion testing :

(1)PA.PB 06H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE6
(2)PB 01H 閃爍三次, 代表接下來..............將設 PA0 為 analog input
將 DEMO BOARD 上 PA0 PATH 切換為 AD0 PATH
調整 DEMO BOARD 上之可變電阻即可由 PB 觀查到 A/D 之轉換值
接下來可按 MCLR 切換至下一個 AD channel

(3)PB 02H 閃爍三次, 代表接下來..............將設 PA1 為 analog input
將 DEMO BOARD 上 PA0 PATH 切換為 AD0 PATH
調整 DEMO BOARD 上之可變電阻即可由 PB 觀查到 A/D 之轉換值
接下來可按 MCLR 切換至下一個 AD channel

(4)PB 03H 閃爍三次, 代表接下來..............將設 PA2 為 analog input
將 DEMO BOARD 上 PA0 PATH 切換為 AD0 PATH
調整 DEMO BOARD 上之可變電阻即可由 PB 觀查到 A/D 之轉換值
接下來可按 MCLR 切換至下一個 AD channel

(5)PB 04H 閃爍三次, 代表接下來..............將設 PA3 為 analog input
將 DEMO BOARD 上 PA0 PATH 切換為 AD0 PATH
調整 DEMO BOARD 上之可變電阻即可由 PB 觀查到 A/D 之轉換值
接下來可按 MCLR 結束 AD conversion 之測試

(6)測試完畢,PA.PB 將維持 06H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳回 STAGE1




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demo2060.asm // STAGE1_I/O testing :

(1)PA.PB 01H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE1
(2)PB執行跑馬燈程式,同時 PA 由 PA0 開始點亮至 PA4 為止
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 01H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE2_RAM testing :

(1)PA.PB 02H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE2
(2)PB 10H 閃爍三次, 此為 RAM testing 之起始位址
(RAM 00H ~ 0FH 的部份位址供特殊暫存器及副程式迴圈使用, 所以將 RAM testing 設定為從 10H 開始)
(3)PB 顯示 10H ~ 2FH 值
(4)PB 4FH 閃爍三次, 此為 RAM testing 之結束位址
(5)測試完畢,PA.PB 將維持 02H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE3_RTCC testing :

(1)PA.PB 03H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE3
(2)外部 RTCC 測試, PB 將反應出按下 RTCC 鍵的次數, 其中
1~ 7 次 trig edge 為 Hi > Lo
8~14 次 trig edge 為 Lo > Hi
(3)按下第 15 次時開始執行內部 RTCC 測試,
PB0 將左旋至 PB7 為止, 且每左旋一個位置其間隔時間將因 RTCC 使用 prescaler 比例的加大而變長
(4)測試完畢,PA.PB 將維持 03H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE4_WDT testing :

(1)PA.PB 04H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE4
(2)PA 由 01H 開始顯示至 08H 為止, 同時 PB HI/LO byte 相對位置交替變換作 SWAP 動作,
且每交替之間隔時間將因 WDT 使用 prescaler 比例的加大而變長
(3)測試完畢,PA.PB 將維持 04H 輸出值,直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳至下一 STAGE

STAGE5_Interrupt testing :

(1)PA.PB 05H 值閃爍三次, 代表已進入STAGE5
(2)PA 維持 05H 輸出值, 遇中斷條件時 PA 將對應值閃爍三次後重新返回 05H 輸出狀態,
中斷反應值詳列如下:
01H >> 代表 PB7~PB4 pin change interrupt 作動
02H >> 代表 PB0/INT external interrupt 作動
03H >> 代表 RTCC 鍵按下 8 次後 造成 RTCC overflow interrupt 作動
(3)測試完畢直到按下 MCLR 鍵始執行跳關程序跳回 STAGE1